x射線檢測使用x射線(也包括γ射線)射線或其他高能射線可以穿透金屬材料的方法，由于材料對射線的不同吸收和散射作用，薄膜的靈敏度也有所不同。因此，提出了一種通過在負片上形成不同黑度的圖像來確定材料內部缺陷的檢測方法。射線照相是一種根據(jù)被檢工件和內部缺陷介質的射線能量衰減，通過改變穿過工件的射線強度來顯示工件上缺陷的方法。射線照相膠片。
當x射線檢測發(fā)生器發(fā)射的x射線穿過工件時，缺陷內部介質的吸收能力與周圍完整部分不同，因此通過缺陷透射的射線強度與周圍完整部分不同。將薄膜放置在工件上的正確位置。在感光膠片上，有缺陷和無缺陷的部分將暴露在不同的光照條件下。在暗室進一步處理后，獲得負片。
然后將負片放在膠片觀看者上，清楚地觀察到缺陷和非缺陷有不同的黑度水平。法官可以據(jù)此判斷缺陷情況。熒光屏觀察法是用不同強度的輻射照射物體，并在覆蓋熒光粉的熒光屏上激發(fā)不同強度的熒光，從而獲得物體內部圖像的方法。本方法使用的設備主要由x射線發(fā)生器及其控制設備、熒光屏觀察記錄輔助設備、工件保護和轉移設備組成。在檢測過程中，工件被送入觀察箱。
探傷儀的x射線檢測管發(fā)出的光穿過被檢工件，落在工件旁邊的熒光屏上。被反射的缺陷圖像被一個平面鏡反射并通過與該平面鏡平行的導線。玻璃觀察。熒光屏觀察法只能檢測薄而簡單的工件，靈敏度較差。靈敏度高，范圍從2%到3%。在大量檢測中，靈敏度僅為4% ~ 7%。小裂縫是不可能檢測出來的。
